

TEELUS多功能解决方案,具有卓越的材料研究能力和分析速度、可靠性和可重复性,台式粉末X射线衍射仪满足此类仪器的最高要求,甚至超出预期。
TELLUS是一款台式粉末衍射仪,符合此类仪器的最高要求,甚至在某些方面超出了预期。 TELLUS配备了最先进的DECTRIS*MYTHEN2 R 1D探测器,大大加快了测量速度。 快速分析可以在几分钟内完成,同时保持数据的质量。探测器的100%量子效率及其积累信号的特性保持了低噪声水平, 这使得收集最高质量的数据成为可能。这就是为什么这种粉末衍射仪可以分析非常少量的样品。 凭借探测器的高分辨率和测角仪的精确定位,在整个角度范围内实现了优于±0.02°(2Ө)的精度。 具有预定义实验场景的软件界面使测量过程即使对新用户也很友好, XRD专家可以创建自己的协议。 分析软件基于先进的分析方法,使样品的定量和定性分析更加精确。粉末衍射仪的探测器和X射线源都有很长的寿命, 这大大降低了维护成本并节省了预算。
- TELLUSCon
- 专业软件
- COD, PDF-2数据库
医药、化妆品行业
法医专家
油气勘探
地质与采矿
化学工业
汽车工业
科学与教育
和其他…(考古、宝石学、食品工业等)
Tube power 600/300 W (on request) Target Cu (Cr, Fe, Co, Mo – optional) Cooling system Internal water cooling: closed-circuit Goniometer θ-θ vertical, radius 150 mm Scanning range -6° ÷ +154° (2Ө) Minimal step 0.0001° (2Ө) Positioning accuracy +/- 0.01° (2Ө) Scanning speed 0.01-600°/min
Interface: USB/Ethernet
Personal computer: PC with OS Windows
尺寸:700 × 700 × 820 mm
重量:≤ 115 kg
LOT #S1001 | 用于研磨和混合各种粉状固体散装物质
取样筛用于粉末的筛分,以在样品制备过程中从块状和固体中分离出一致的粉末。
LOT #S1004 | 在反向加载比色皿准备测量时,这些板用于将粉末样品与比色皿表面调平。
LOT #S1003 | 该板用于制备测量比色皿,将粉末样品与比色皿表面调平。
LOT #H1003 | 一种机电组件,设计用于将样品安装在圆形试管中,并在测量期间以指定的速度旋转它们
LOT #H1002 | 允许多达八个不同的样品加载测量与每个样品的转速控制
LOT #H1001 | 用于固定散装样品并将分析样品平面与衍射仪平面调平。
LOT #K1000 | 自动刀准直器
LOT #K1001 | 窄衍射角高精度测量不可或缺的配件
LOT #C1008 | 用于粉末样品的直接灌装(带预流平)
LOT #C1005 | 坑内回填和压粉
LOT #C1006 | 坑内回填和压粉
LOT #C1003 | 粉末样品直接灌装
LOT #C1001 | 粉状样品可直接充填或回填,可调节加载深度
LOT #C1007 | 用于安装参考样品或无背景比色皿
LOT #C1004 | 使用样品旋转器或自动样品转换器直接填充粉末样品和测量
LOT #C1002 | 高精度测量小样品量
形成一个小的、低发散的辐射光束
LOT #A1003 | 对准x射线衍射仪
LOT #A1002 | 对准时光束强度限制
LOT #A1001 | 用软件检查衍射仪的对准和校准
LOT #O1005 | 限制光束在轴向的尺寸
LOT #O1004 | 限制入射光束赤道发散,使其在测试样品(足迹)上的投影具有指定的尺寸,并且不超过样品的尺寸
LOT #O1003 | 安装在入射光束掩模插槽中(而不是BM1),并具有与DS发散狭缝标记一致的数字标记
LOT #O1002 | 限制光束的轴向发散
LOT #X1002 | 形成从0,71到2,29的不同波长的辐射Å。
LOT #X1001 |选择性抑制x射线管Kβ的辐射单色化